-产品介绍

基于MAP的全新扫频波长系统是一代行业标准。全球有超过100家制造商在研发和生产中依赖和使用SWS，根据波长测量插入损耗（IL），偏振（PDL），回波损耗（RL）以及方向性。全新的SWS提升了测试速度，精度和分辨率，而同时又保留它拥有的独特技术的分布架构，实现业界最低成本的测试。mSWS 系统可以验证新光学组件和模块的光学性能，包括：任何波长（colorless）、任何方向（directionless）和任何竞争（contentionless）（CDC）的 ROADM、高端口数波长开关、可调谐滤波器以及光路包。利用新一代 SWS2000 可调谐激光和源光学模块 (SOM) 的功能。mSWS 在整个 1520 至 1630 nm 范围上的波长精度为 ±0.002 nm，能够保持 100 nm/秒的高性能规格，是前几代产品的两倍。增加了新的可变波长分辨率功能，使用户能够选择前所未有的 0.4 至 3pm 的分辨率。

-产品特性

●具备高端口数设备以极大动态范围及无与伦比的波长分辨率在5秒内完成C和L波段分析

●受技术保护的并行测试架构，可极大地提高产量

●在下一代CDC设备制造中取得竞争优势

●与之前的几代SWS产品相比，占地面积要求减少了一半

●通过本地服务选项，很大程度地提升正常运行时间