-产品介绍

MAP-300是VIAVI(原JDSU)推出的以光特性测试为主的多功能测试平台，可以配置MAP插回损模块，MAP光开关模块组成无源器件的插回损测试，MAP-300基于Linux的操作系统避免了基于Windows的传统平台的维护要求，无需IT部门再进行病毒防治和网络访问方面的工作，并支持多种USB的设备，包括端面测试仪，扫描机，打印机等。

-产品特性

●单模，多模测试模块可选，波长1310nm,1490nm,1550nm,1625nm;850nm,1300nm

●在80dB动态范围内可对短至70cm的光纤跳接线进行免缠绕回损测试

●模块插槽式设计，支持热插拔，安装简单快速

●超高IL测试精度，显示分辨率达+/-0.001dB

●极大简化图表界面适合快速生产部署

●插损模式下1秒测试平均速度

●集成双向测试模块可选

●50um光源模块和开关模块均符合EF新标准

●RL测试模式可选

●简单、直观的图表界面

●支持全中文界面

●丰富的光纤连接器测试适配器可选

●光源连接器维护简单